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ライブ・セミナ

數位量測學習中心 測試菁英養成班

3/12/2024 - 4/18/2024

9:30 AM - 5:00 PM CST

【量測心法大公開,技能速學全解析】

【數位量測學習中心 測試菁英養成班】特別為工程師們打造了一系列專注於最經常使用且感興趣的量測工具的精選課程。精選課程包括示波器、探棒、電錶及SourceMeter等工具的入門與進階課程,旨在幫助您建立技術知識的堅實基石與掌握嫻熟的操作技能。

我們的研討會將透過面對面的精闢說明,結合實體小班制的互動教學,讓您有機會隨時與講師近距離互動。透過這種互動方式,您不僅能夠解決在日常工作中可能遇到的測試難題,並有效地強化專業實力,輕鬆晉級測試菁英!

不容錯過的學習機會,讓您在測試技能上更上一層樓。座位有限、先報先贏,立即保留座位加入測試菁英的行列!

組込み設計

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WEBセミナ

ウェブ・セミナ

高速シリアルインタフェースの進化と基本概念から最新技術まで解説

4/18/2024

9:30 AM - 12:00 PM JST

このセミナーでは、高速シリアルインタフェースの技術傾向を包括的に捉え、基本的な概念から最新技術までを解説します。参加者は、高速シリアルインタフェースに関する包括的な理解を得ることで、迅速な技術適用において優位性を獲得できるでしょう。

また、CQ出版社から電子書籍で発売されている「初めての高速シリアルインタフェース測定」を総括する形で、実践的な測定技術やトラブルシューティングについても触れ、参加者が理論と実践を結びつけながら知識を深められるようサポートします。
是非、このセミナーを通じて、高速シリアルインタフェースの世界に迫り、その進化の舞台裏を垣間見てください。

シリアル通信

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春の入門基礎シリーズ

DC計測基礎セミナ
ウェブ・セミナ

第一弾 DC計測基礎セミナ

4/23/2024 - 4/26/2024

8:30 AM - 10:30 PM JST

DC測定にこれから本格的に取り組まれる方や、知識をリフレッシュしたいという方の声にお応えして、過去のKeithley技術セミナでご好評いただいたセミナから、基礎固めにぴったりの内容をピックアップしてお送りします。

【DC計測基礎セミナ セッション一覧】

*基礎用語~DC計測器の選び方のキホン
*デジタル・マルチメータの基礎
*測定環境構築の手引き~配線のコツ
*抵抗測定と薄膜測定~材料評価方法~
*量子演算超入門
*トラブルシューティングの考え方
*pythonで計測器を動かす
*温度・光など外部機器自動制御する~

開催期間は2024/4/23(火)10:00~4/26 (金) 18:00まで、4日間限定、24時間ご都合のよろしいタイミングでセミナがご視聴いただけます。 

材料科学

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HỘI THẢO

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ライブ・セミナ

TEKDAY HANOI

4/23/2024

9:00 AM - 4:30 PM CET

Tầng 6, Tòa Nhà NIC Hà Nội
Ngõ 7 Tôn Thất Thuyết, Cầu Giấy, Hà Nội

 Khai phá tiềm năng của Công nghệ bán dẫn thế hệ mới

Tìm hiểu những xu hướng công nghệ mới nhất trong công nghiệp bán dẫn và điện tử công suất, bao gồm những thách thức và cơ hội mang lại từ những chất bán dẫn Khe vùng rộng (Wide Bandgap) như Silicon Carbide (SiC) và Gallium Nitride (GaN). Những chuyên gia của chúng tôi sẽ trình diễn những kỹ thuật đo kiểm tiên tiến và những giải pháp giúp bạn khơi dậy tiềm năng tối đa của những vật liệu mới này. 

Hãy tham gia cùng chúng tôi vào ngày 23 tháng 4 tại Trung tâm Đổi Mới Sáng Tạo Quốc Gia – NIC. Đừng bỏ lỡ cơ hội học hỏi từ các chuyên gia, xem trình diễn thiết bị và giao lưu với các đồng nghiệp của bạn.
Hãy đăng ký TekDay ngay hôm nay!

半導体

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春の入門基礎シリーズ

オシロスコープ入門
ウェブ・セミナ

第二弾|オシロスコープ入門WEBセミナ

5/23/2024

10:00 AM - 12:00 PM JST

~2時間で基礎知識&おさえるべき実践ポイントを学ぶ~
本セミナでは、これからオシロスコープを使用する方を対象に、基本的な知識や、おさえておくべきポイント、注意点などについて解説します。また座学だけでなく実践的な操作も学べるよう実機によるデモや、測定に便利な各種機能についても紹介します。

オシロスコープを初めて使う方はもちろん、今まで何となく使っていたが基本的な動作原理を理解した上で使いこなせるようになりたい方の復習としても最適なセミナです。

コンプライアンスとプリコンプライアンス

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春の入門基礎シリーズ

プロービング徹底解説セミナ
ウェブ・セミナ

第三弾|プロービング徹底解説セミナ

6/6/2024

10:00 AM - 12:00 PM JST

オシロスコープを使った測定では、「測定点とオシロスコープをどうやって接続するか」つまりプロービングに関する正しい知識や失敗の勘所をもたずに正しい測定を行うことはできません。正しい測定ができないだけでなく、間違ったプロービングは命を危険にさらすことにもつながります。
 本セミナでは、盲点になりがちなプロービング失敗例を取り上げ、対策方法や正しく測定するためのノウハウを解説します。
オシロスコープの基本的な使い方は分かってきた方で、より精度高く測定できるようになりたい、使ったことのない高性能プローブを使いこなしたい、プロービングについて体系的に復習をしたいという方にもおすすめです。

コンプライアンスとプリコンプライアンス

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春の入門基礎シリーズ

プロービング徹底解説セミナ
ウェブ・セミナ

プロービング徹底解説セミナ

6/6/2024

10:00 AM - 12:00 PM JST

オシロスコープを使った測定では、「測定点とオシロスコープをどうやって接続するか」つまりプロービングに関する正しい知識や失敗の勘所をもたずに正しい測定を行うことはできません。正しい測定ができないだけでなく、間違ったプロービングは命を危険にさらすことにもつながります。
 本セミナでは、盲点になりがちなプロービング失敗例を取り上げ、対策方法や正しく測定するためのノウハウを解説します。
オシロスコープの基本的な使い方は分かってきた方で、より精度高く測定できるようになりたい、使ったことのない高性能プローブを使いこなしたい、プロービングについて体系的に復習をしたいという方にもおすすめです。

コンプライアンスとプリコンプライアンス

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ウェブ・セミナ

計測機器の基本的な取扱いについて(初級者用) ‐ 校正の必要性、計測機器の維持管理‐

オンデマンド

このセミナーでは、正しい校正を行なうために必要な、基本的な校正の考え方についてまとめました。計測機器を適切に維持管理するためには、正しい校正の理解が必要となります。

■ 対象者
  • 初めて計測機器の校正管理に携わる方
  • 計測機器の正しい校正方法を学びたい方
■ 所要時間 35分

校正/テスト・サービス

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オンデマンドWebセミナ

Oscilloscope Primer by 2 series on demand

オシロスコープ入門 - 初心者向け (前編/後編 )

オンデマンド

テクトロニクス最新型2シリーズ・オシロスコープを使った初心者向けのオシロスコープ入門セミナです。
オシロスコープ使用にあたって覚えておくべき基本項目について説明します。
プローブ補正、トリガ設定、自動測定など、前編/後編で解説します。
間違った操作の防ぎ方、オシロスコープの使用における誤解など基本にして必須の知識をご説明します。

オシロスコープ入門 前編 【所要時間:47分】
オシロスコープ入門 後編 【所要時間:54分】

コンプライアンスとプリコンプライアンス

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DPO70000SX ATI performance oscilloscope

計測技術ラーニング・センター

ラーニング・センターでは、オシロスコープ、デジタル・マルチメータ、スペクトラム・アナライザなどのテクトロニクス製品の使い方をさらに詳しくご紹介しています。
Webinar

Got Jitter? Diagnosing Power Integrity and Signal Integrity Problems

Are the bit errors in your data caused by the power supply or sources inside the digital channel? Let's end the dispute.

Webinar

SiC/GaN Components: 5 Key Tests

Learn techniques for high power characterization of Silicon Carbide (SiC) and Gallium Nitride (GaN) components.