ニュースリリース
ケースレーが恒例の「ケースレー・シンポジウム2010」を開催。7月23日（金）10:00～17:00 @ホテルインターコンチネンタル東京ベイ。無料、申し込み受付中！
ケースレーが抜群コスト・パフォーマンスの3390型「任意波形/ファンクションジェネレータ」の「無料の体験」キャンペーン実施中！
ケースレーの新しいリードリレー・マトリックスカード、 超高密度と柔軟な構成能力を両立
無料オンラインセミナ「半導体C-V測定の基礎」5月26日（水）10：00～
ケースレーが、日本語の「2010年版 製品ガイド」を発行
ケースレーが、 「電気的な試験測定を理解するためのガイド」CDを発行
「装置がパワーを決める」ケースレーインスツルメンツ（株）社長嶋崎のインタビュー記事
弊社社長、嶋崎が半導体産業新聞の取材によるインタビュー記事(2010.4.14)です。「装置がパワーを決める」というシリーズインタビュー記事からの転載です。
ケースレーの ‘超速’I-V（電流‐電圧）モジュールにより、 材料、デバイス、プロセスの3つの必須特性評価を １つの測定器に集約
2010年２月18日―先進電子計測器、システムの世界的リーダであるKeithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI)は、本日、 4200-SCS型 半導体特性評価システムの既存の多様な測定オプションに、最新の機能として4225-PMU型 ‘超速’I-Vモジュールを発表しました。4200-SCS型は、これまで半導体業界における広範な電圧・電流レンジ、立上り/立下り/パルス時間の要求に適時対応して参りました。
ケースレーは、「高感度測定」の無料セミナを＜名古屋＞および＜大阪＞で開催します。直流電圧・電流の高感度測定のノウハウを実機デモも含めて分りやすく解説します。名古屋会場：2月17日(水)、大阪会場：2月19日(金) 先着順ですのでお早めにお申し込みください。
ケースレーが無料のオンラインセミナ「微少電流測定入門」を開催します。 1月28日(木)午前10：00～11：00。＜1μAの直流の微少電流の測定ノウハウを 基礎から分かりやすく解説する充実の1時間です。今すぐご登録ください。
ケースレーは「セミコン・ジャパン2009」に出展します。12月2日（水）～4日（金）、10:00～17：00 ＠幕張メッセ。ケースレー展示は「ホール８」、お待ちしております
ケースレーがACS Basicエディションソフトウェアで サポートするDCソース-メジャー計測器を拡充
2009年8月27日― 先進電子計測器、システムの世界的なリーダであるKeithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI)は、広く使われているACS(Automated Characterization Suite) Basicエディションソフトウェアを機能アップし、ソース-メジャー (SMU) 計測器の多くを追加サポートしたと発表します。
高速、長寿命の新規6x16 マトリックスカード、 ケースレーの3700シリーズ システムスイッチ/マルチメータに追加
2009年7月6日― 先進電子計測器、システムの世界的なリーダであるKeithley Instruments, Inc.(NYSE:KEI)は、3700シリーズシステムスイッチ/マルチメータおよびプラグインカードのファミリに 新たなプラグインのスイッチングカード：3731型 6x16 高速リードリレー・マトリックスカードを追加し そのラインアップを拡充したと発表しました。その特段の電圧および電流の特性（200V, 1A スイッチングまたは 2A キャリー信号が可能）により、 ケースレーの2600Aシリーズ システムソースメータと連動させての多チャンネルI‐V試験に理想的だといえます。
ケースレーが3700シリーズ システムスイッチ/ マルチメータに 無料のグラフ作成ツールキット （ファームウエア)を追加 ― 集録データを “即モニタ”
2009年6月22日―先進電子計測器、システムの世界的リーダであるKeithley Instruments Inc.(NSE:KEI)は、3700シリーズ システムスイッチ/マルチメータ ファミリにウェブブラウザベースの多チャンネルグラフ作成ツールキットの機能を追加したと発表しました。今後の新しい3700シリーズのメインフレームには無償で付属されるこの新しいデータの可視化機能により、使用者はプログラミングやデータファイルの操作をすることなく、内蔵デジタルマルチメータ(オプション)でなされるチャンネル測定の測定値vs時間を観察する簡便な手段を提供します。
半導体プローバ・特性評価システム間の多種信号接続ソリューションを ケースレーがはじめて実現し、販売開始
2009年4月２０日―先進電子計測器、システムの世界的リーダであるKeithley Instruments Inc.(NSE:KEI)は、I-V、C-VそしてパルスI-V信号を一つのケーブルセットで扱える試験業界ではじめてのケーブルソリューション（特許申請中）を発表しました。新しいケーブルキットは、申請特許による設計で、DC電流-電圧 (I-V)、容量-電圧(C-V)、そしてパルスI-V試験のために最新の半導体パラメータアナライザをカスケード・マイクロテック社またはズース・マイクロテック社のプローバに接続するプロセスを飛躍的に簡素化します。ケーブルはケースレーの4200-SCS型 半導体特性評価システムをはじめ、他の評価用の試験計測器に合うように設計されています。
ケースレーが、4200-SCS型をアップグレード 太陽電池向けの試験機能、C-V試験の周波数範囲、９個までの測定スロットを追加
2009年4月２０日―先進電子計測器、システムの世界的リーダであるKeithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI)は、数々の賞を受けているケースレー4200-SCS型半導体特性評価システムに、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア上の広範な拡張を行い発売しました。KTEI（Keithley Test Environment Interactive）V7.2アップグレードは、9個の太陽電池の新しい試験ライブラリ、容量－電圧測定の周波数範囲拡大および9個の測定スロットを持つ新しい4200-SCS型メインフレームをサポートします。
ケースレーが、 フレキシブルで高性能な 50MHz任意波形/ファンクション ジェネレータを発売
2008年10月16日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、高い波形分解能をベストなコストパフォーマンス で実現する3390型50MHz任意波形/ファンクションジェネレータを発売しました。
ケースレーが業界最速、簡単な I-V 特性評価を実現する新しい プラットフォームをソースメータ®に採用
2008年9月26日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、2600Aシリーズシステムソースメータ® を発売し ました。
ケースレーがバッテリ駆動の 携帯電話機器を試験する、 高速過渡応答 2 チャンネル電源を発売
2008 年9 月26 日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、バッテリとチャージャシミュレーションの2 チ ャンネル電源2308 型携帯機器バッテリ/チャージャシミュレータを発売しました。
ケースレーが定評あるエレクトロメータ/ 絶縁抵抗計を刷新、低電流測定のスピードを 大幅にアップして提供
2008年8月27日 -先進の電子計測器・システムの世界的リーダーであるKeihtley Instruments Inc.（NYSE: KEI）は、6517B型エレクトロメータ/絶縁抵抗計の販売を開 始しました。
ケースレーが3700 シリーズ システムスイッチ/マルチメータの プラグインカードを拡充
2008 年7 月25 日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、3700 シリーズシステムスイッチ/マルチメー タ・プラグインカードシリーズに新しい2 枚のプラグインカード、3724 型デュアル 1x30 FET リレーマルチプレクサカードと3750 型マルチファンクションI/O カード を追加しました。
ケースレーがソフトウェアKTEI V7.1 の アップグレードにより4200-SCS 型 半導体特性評価システムのC-V、I-V、 パルスI-V 機能を拡張
2008 年7 月24 日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、4200-SCS 型半導体特性評価システム用のソフ トウェアの最新バージョンKeithley Test Environment Interactive (KTEI) V7.1 をリ リースしました。
ケースレーがウェーハレベル信頼性試験を 最大5 倍効率化するACS(Automated Characterization Suite)テストシステムの 国内販売を開始
2008年6月19日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、半導体信頼性と寿命予測試験アプリケーションの ためのWLR(ウェーハレベル信頼性)試験ツールオプションを含むACS(Automated Characterization Suite)統合テストシステムの国内での販売を本日より開始します。
ケースレー、4200-SCS 型 半導体評価システムを刷新する 新しい内蔵型C-V モジュールと ソフトウェアを発売
2007年10月24日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、定評ある4200-SCS半導体特性評価システム用の C-V測定モジュール4200-CVU型を発売した。
ケースレー 高確度な ベンチ/システムDMM として最適な 6½桁USB 対応DMM を 75,000 円で国内販売開始
2007 年10 月24 日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、高精度、ローコストのUSB ベースの2100 型 6½桁デジタルマルチメータ(DMM)の日本国内での販売を本日より開始した。
ケースレー、高速、省スペースでコスト パフォーマンスに優れたソースメータ® シリーズに微小電流モデルを追加
2007年9月19日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、「2600シリーズシステムソースメータ」の新モ デル2機種を発表、本日より販売を開始する。
ケースレー、高スループット信号切り替え、LXI CLASS B 準拠、高性能統合DMM オプションを備えた システムスイッチプラットフォームを発売
2007 年9 月19 日 – 先進の電子計測器・システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI)は、スイッチおよび統合デジタルマルチメータ(DMM)試験ソリューションの次世代プラットフォームである3700 シリーズシステムスイッチ/マルチメータを発表、本日より販売を開始する。3700 シリーズは、インスツル メンツグレードの高品質なスイッチを幅広いアプリケーションに提供する。
ケースレー半導体試験のソリューション・ビジネスを強化、試験効率を高める統合テストシステムを販売開始
2007 年4 月18 日– 先進の電子計測器・システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、システムソリューション・ビジネスを強化、デバイス、ウェーハ、カセットレベルでの半導体特性評価向けのACS (Automated Characterization Suite) 統合テストシステムの日本国内での販売を本日より開始した。
ケースレー 先端半導体デバイス試験向け パルスIV オプションの 機能強化モデルを販売開始
2007 年4 月5 日– 先進の電子計測器・システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、定評ある4200-SCS 型半導体特性評価システムの パルスIV ハードウェアオプションおよび試験環境ソフトウェアの機能強化モデルを 発表、本日より国内での販売を開始する。DC、パルス、信頼性のオールインワンで ある研究室グレードのシステムにターンキー・ソリューションを提供する新アプリ ケーションパッケージが登場した。
ケースレー 生産アプリケーション用 ハイブリッド・テストシステム向けのPXI製品を販売開始
2006年11月21日 – 先進の電子計測器・システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、新たにPXI製品ラインの「KPXIシリーズ」を発表、本日より国内での販売を開始する。KPXIシリーズは、高速自動生産試験向けの、精密測定器を用いたハイブリッド試験システムの1構成要素として設計された。KPXIシリーズの高速データ収録機能やトリガ同期機能をケースレーの精密測定器と組み合わせることによって、より優れたハイブリッド・テストシステムを構築できる。
ケースレー、ナノテク電子計測／試験のWeblogのスポンサーに
先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、この度、ナノテクノロジおよびMEMS (Micro Electromechanical System) 分野の電子計測／試験に興味のある技術者、研究者を対象とした初のWeblog (Blog)を共同開発し、スポンサーとなった。Nanotest Weblog には、ナノテクノロジ、MEMS業界の技術、およびビジネス開発に関する最新ニュースが頻繁に投稿され、読者は最新ニュースをいち早く入手できる。Nanotest Weblogは、Nanotech Briefs Magazineがコーディネートしており、www.nanotestblog.com からアクセスできる。
ケースレー「パルス／パターン・ジェネレータ」の販売を開始
2006年5月18日---先進電子計測器／システムの世界的リーダーである Keithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、同社初の3400 シリーズ・パルス／パターン・ジェネレータを発表、本日より日本国内での販売を開始する。
ケースレー小型でコストパフォーマンスに優れた「2600シリーズ・システムソースメータ」に200V/10Aモデルを追加
2006年2月24日 – 先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、「2600シリーズ・システムソースメータ」の新モデル2種類の発売を開始した。2611型および2612型は、昨年発表したケースレーの第三世代ソースメジャーユニット(SMU)の特長、利点を継承し、定格200V/10Aの高電圧/高電流・印加/測定機能を追加。より広範なデバイスI-V試験のコスト削減に寄与する。FET、ダイオード、電圧レギュレータ、オプトエレクトロニクス部品、各種シリコン/化合物半導体などのファンクション試験、I-V特性試験に理想的。2600シリーズ・システムソースメータの従来モデルと同様に、2611型と2612型の小型でスケーラブルなボックスには高スループットのSMUテクノロジが集約されており、最大16 SMUチャンネルをシームレスに統合可。
ケースレー 世界の計測をリードし続けて60年
2006年2月24日 – 先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、世界の計測をリードし続け、今年で60周年を迎える。1946年の設立以来、高感度DC 測定製品ライン(特許取得)をコアとし、近年はRF (高周波)およびパルスの製品ラインの拡充に努めてきた。
Keithley Extends Industry’s Fastest, Smallest, and Most Cost-Effective SMU Line
Cleveland, Ohio – February 20, 2006 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), a leader in solutions for emerging measurement needs, announces two new additions to its Series 2600 System SourceMeter® Instruments.
ケースレーがシンガポール／マレーシアにオフィスを開設
クリーブランド – 2005年10月17日 – 先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、本日、東南アジア地区でのビジネスを大幅に拡大するため、シンガポールおよびマレーシアにオフィスを開設し、電子試験測定ソリューションの直接販売／サポートを行うことを発表した。
ケースレーが半導体試験技術ハンドブックを発行
クリーブランド – 2005年7月12日 – 先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、この度先端デバイス試験技術に関するハンドブック「Overcoming the Measurement Challenges of Advanced Semiconductor Technologies: DC, Pulsed, and RF—From Modeling to Manufacturing」を発行した。全140ページのハンドブックは、65nmノードへの技術移行に伴い、半導体製造メーカで新たに発生している測定課題について解説している。
ケースレーが半導体特性評価システム用パルス測定ソリューションを新発売
クリーブランド – 2005年7月12日 – 先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、この度4200-SCS型半導体特性評価システム用の『パルス発生/測定オプションパッケージ』の発売を開始した。小型カードに新しいPIV (パルスI-V)機能を集約し、測定品質を改善することで、high-k材料、感熱デバイス、先端メモリチップなどの市場投入期間を短縮する。このパッケージは業界初のトータルパッケージで、正確で再現性高いパルス＆DC測定を簡単に行う、待望の市販ソリューションである。
ケースレーが65nmノード以降に対応する新しい半導体信頼性試験システムを発売
クリーブランド – 2005年4月14日 – 高度な電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、この度S510型半導体信頼性試験システムの発売を発表した。このシステムは、大規模なチャンネルを備え、世界最先端のULSI CMOS プロセスにおける、65nmノード以降での信頼性および寿命モデリングのためのターンキーソリューションである。
ケースレーがUSBデータ収録モジュールを発売
クリーブランド – 2005年3月18日 – 高度な電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、この度KUSB-3100シリーズUSB対応データ収録(DAQ)測定ソリューションの発売を開始した。
ケースレーが高速、小型、高コストパフォーマンスの システムソースメータ 2600シリーズを新発売
クリーブランド – 2005年3月9日 –高度な電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、この度2600シリーズ・システムソースメータの販売を開始した。2600シリーズはシリコン／化合物半導体デバイス製造や電子部品製造の試験にかかるコストを劇的に削減できる、新しい試験システムである。
ケースレーがスイッチング製品ラインアップを拡充--ハーフラックサイズの超高密度スイッチングシステムを発売
クリーブランド – 2005年2月16日 – 高度な電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、この度7002-HD型超高密度2スロットスイッチングメインフレーム、およびそのカードの発売を開始した。7002-HD型は、計測器グレードのスイッチングシステムを、低価格で提供する。
ケースレーがUSB-GPIBインタフェースを発売
クリーブランド – 2004年10月12日 – 高度な電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、この度KUSB-488型 USB-GPIBインタフェースアダプタの発売を開始した。KUSB-488型は、コンピュータのUSBポートをIEEE 488.2コントローラに変換し、最大14台のGPIB機器をフル制御する。