ケースレー小型でコストパフォーマンスに優れた「2600シリーズ・システムソースメータ」に200V/10Aモデルを追加

2006年2月24日 – 先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、「2600シリーズ・システムソースメータ」の新モデル2種類の発売を開始した。2611型および2612型は、昨年発表したケースレーの第三世代ソースメジャーユニット(SMU)の特長、利点を継承し、定格200V/10Aの高電圧/高電流・印加/測定機能を追加。より広範なデバイスI-V試験のコスト削減に寄与する。FET、ダイオード、電圧レギュレータ、オプトエレクトロニクス部品、各種シリコン/化合物半導体などのファンクション試験、I-V特性試験に理想的。2600シリーズ・システムソースメータの従来モデルと同様に、2611型と2612型の小型でスケーラブルなボックスには高スループットのSMUテクノロジが集約されており、最大16 SMUチャンネルをシームレスに統合可。

2611型と2612型は、特に、電子メーカで高まっている、小～中規模のピン数のデバイス試験や生産テストフィクスチャ内での複数デバイス試験を超高速に行う、コストパフォーマンスの高い自動試験システムへのニーズに応えるように設計されている。2611型はシングルチャンネルモデル、2612型はデュアルチャンネルモデル。ケースレー独自の内蔵Test Script Processor (TSP™)とTSP-Linkにより、複数の2600シリーズ・システムソースメータをシームレスに統合可能。ユーザは、複数チャンネルを使用した自動試験シーケンスのプログラムを作成し、PCから独立して実行可能。通信ディレイを排除できるため、従来の試験測定器と比較して10倍以上の試験時間短縮を実現。2チャンネルでの200V印加レンジを備えた2612型は、差動400Vボルトでの動作が可。各SMUチャンネルは1.5A DC/10Aパルスの出力をサポート。また、2611/2612型に追加されたコンタクトチェック機能は、印加/測定シーケンスを開始する前に試験対象デバイスへのすべての接続をチェックし、高速自動試験で不良品をパスさせる誤判定を防止する。モジュール方式のようにスケーラブルな2600シリーズ・システムソースメータは、小～中規模のテストシステムアプリケーションにおいて精密DC、パルス、低周波 AC ソースメジャーテストを実行するATEシステムの構築に最適である。

試験コストを削減する、モジュール方式で柔軟性と拡張性に優れた測定器
TSP-Link™は、トリガ同期およびユニット間通信のバスとして機能し、単一の TSPプログラムで最大128チャンネルをシームレスに制御可。ハブや大量のケーブルによる接続は不要。ネットワークオーバーヘッドはほとんどなく、データ転送レートは100Mビット/秒、GPIBや100Base T Ethernet と比較してスピードが大幅に向上。ユーザはラックスペースやメインフレームシステムにコストをかけずに、システムを拡張可。TSP試験システムは、全SMUチャンネルを単一のI-V試験システムのように制御でき、占有床面積や保守費用の激減に大きく寄与する。

試験時間の短縮
ケースレーのTSPテクノロジは、試験スループットを劇的に増加する。2611型と2612型は、 予め定義したデバイス試験を数百種類以上格納し実行。リミット比較、条件分岐などを、PCコントローラ付き/無しで行える。ユニットのデジタルI/Oは、部品ハンドラなどの外部機器を直接制御でき、データ通信バスやPCのオペレーティングシステムのオーバーヘッドなどによるGPIBのトラフィック遅延を激減。シームレスなレンジ変更が、1台のSMU上で複数のレンジにまたがる試験シークエンスのスピードを向上。コンタクトチェック機能が不良品をパスさせる誤判定を防止、オペレータ介入や不要な部品ハンドラシーケンスを回避し、試験速度を加速する。コマンドをキューに入れて順次実行する従来の製品と比較して、試験時間をデバイスによっては1/10に、一般的には1/2～1/4に短縮。

容易な試験システム開発
従来、複数測定器で構成される自動システムの開発は、非常に困難な課題であったが、ケースレー提供の2つの無償添付ソフトウェアツールを利用すれば、2600シリーズ・ソースメータは非常に簡単にシステムアップ可。研究開発用には、カーブトレースソフトウェアLabTracer 2.0 が、最大8台のソースメータのチャンネルを制御し自動試験を実行、プログラミングは不要。ソースメータのチャンネル設定、デバイスパラメータ試験の実行、試験データのプロットも容易に行える。

製造試験用には、TSPが直感的なプログラミングインタフェースを提供、BASICライクな単純な言語でのプログラミングを可能にする。汎用部品用の試験スクリプトライブラリが豊富に添付されており、さらに最新のライブラリをwww.keithely.comからダウンロード可。TSPの統合開発環境Test Script Builderにより、カスタムテストスクリプトの作成、デバッグは容易。TSPとTest Script Builderを使用した場合、従来の試験シーケンス計測器と比較して50～75%以上の試験プログラム開発時間を削減できる。