現在の場所: ホーム » Keithley News Releases » ケースレー 先端半導体デバイス試験向け パルスIV オプションの 機能強化モデルを販売開始

今後の展示会

2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • USA
August 22-24, 2011
ウェブサイトを見る

ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
ウェブサイトを見る

MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • USA
Nov. 28-Dec. 2, 2011
ウェブサイトを見る

 

ケースレー 先端半導体デバイス試験向け パルスIV オプションの 機能強化モデルを販売開始

Document Actions
2007 年4 月5 日– 先進の電子計測器・システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.(NYSE:KEI)は、定評ある4200-SCS 型半導体特性評価システムの パルスIV ハードウェアオプションおよび試験環境ソフトウェアの機能強化モデルを 発表、本日より国内での販売を開始する。DC、パルス、信頼性のオールインワンで ある研究室グレードのシステムにターンキー・ソリューションを提供する新アプリ ケーションパッケージが登場した。

全文はこちらをクリックしてください(PDF形式)








最終変更日 2007-04-12