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現在の場所: ホーム » Keithley News Releases » ケースレー半導体試験のソリューション・ビジネスを強化、試験効率を高める統合テストシステムを販売開始

今後の展示会

2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • USA
August 22-24, 2011
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ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
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MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • USA
Nov. 28-Dec. 2, 2011
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ケースレー半導体試験のソリューション・ビジネスを強化、試験効率を高める統合テストシステムを販売開始

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2007 年4 月18 日– 先進の電子計測器・システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、システムソリューション・ビジネスを強化、デバイス、ウェーハ、カセットレベルでの半導体特性評価向けのACS (Automated Characterization Suite) 統合テストシステムの日本国内での販売を本日より開始した。

全文はこちらをクリックしてください（PDF形式)








最終変更日 2007-04-25