ケースレーが恒例の「ケースレー・シンポジウム2010」を開催。7月23日（金）10:00～17:00 @ホテルインターコンチネンタル東京ベイ。無料、申し込み受付中！

ケースレーは、恒例の「ケースレー・シンポジウム2010」を開催します。2010年7月23日（金）10:00～17:00、ホテルインターコンチネンタル東京ベイを会場に、無料にて行われます。ケースレーの最新技術が紹介されるこのシンポジウムは、毎年多くの研究者・技術者および管理者の参加があり、高い評価を得ています。
今回は、基調講演に京都大学教授の木本恒暢先生、招待技術講演に電気通信大学教授の野崎眞次先生をお迎えして開かれ、両先生から最前線の研究内容が解説されるのみならず、ケースレー社の最新の計測技術情報もくわしくお伝えするものになります。
以下の「ケースレー・シンポジウム2010」の概要をご覧の上、お申し込みください。

ケースレー・シンポジウム2010概要：

　　- 開催日時：2010年7月23日（金）10:00～17:00 （9:30開場）
　　- 会場：ホテルインターコンチネンタル東京ベイ
　　- 参加費：無料（事前申し込み制）、昼食付き
　　- 定員：150名（定員になり次第締め切らせていただきます）

基調講演：
「省エネに貢献するワイドギャップ半導体パワーデバイス技術」
京都大学　大学院工学研究科　電子工学専攻教授　　木 本　恒 暢　氏

招待技術講演：
「フレキシブル基板、化合物半導体基板上のMOSFET作製用酸化シリコンナノ粒子:真空蒸着と光酸化による高品位酸化膜の作製」
電気通信大学　電気通信学部　電子工学科教授　　　野 崎　眞 次　氏

最新技術講演：
※『Introduction to Ultra Fast I/V Applications』
（超速I/V印加測定アプリケーションについて）
※『3kV/40A超のパワーデバイスのI-V/C-V試験』
※『High brightness LED measurement challenges for the future, and how Test Script Processing (TSP ) technology can be used to optimize electrical testing』
（高輝度LED測定の課題と、TSP技術による電気特性試験の最適化）

（注）同業の方、学生の方のお申し込みはご遠慮願います。