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ケースレーがウェーハレベル信頼性試験を 最大5 倍効率化するACS(Automated Characterization Suite)テストシステムの 国内販売を開始

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2008年6月19日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、半導体信頼性と寿命予測試験アプリケーションの ためのWLR(ウェーハレベル信頼性)試験ツールオプションを含むACS(Automated Characterization Suite)統合テストシステムの国内での販売を本日より開始します。

全文はこちらをクリックしてください（PDF形式)








最終変更日 2008-06-21