コンテンツへジャンプする
セクション
製    品 サポート ナレッジセンター アカデミック イベント 会社案内
現在の場所: ホーム » Keithley News Releases » ケースレーがウェーハレベル信頼性試験を 最大5 倍効率化するACS(Automated Characterization Suite)テストシステムの 国内販売を開始

今後の展示会

2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • USA
August 22-24, 2011
ウェブサイトを見る

ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
ウェブサイトを見る

MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • USA
Nov. 28-Dec. 2, 2011
ウェブサイトを見る

 

ケースレーがウェーハレベル信頼性試験を 最大5 倍効率化するACS(Automated Characterization Suite)テストシステムの 国内販売を開始

Document Actions
2008年6月19日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、半導体信頼性と寿命予測試験アプリケーションの ためのWLR(ウェーハレベル信頼性)試験ツールオプションを含むACS(Automated Characterization Suite)統合テストシステムの国内での販売を本日より開始します。

全文はこちらをクリックしてください（PDF形式)








最終変更日 2008-06-21