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今後の展示会

2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • USA
August 22-24, 2011
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ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
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MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • USA
Nov. 28-Dec. 2, 2011
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ケースレーがソフトウェアKTEI V7.1 の アップグレードにより4200-SCS 型 半導体特性評価システムのC-V、I-V、 パルスI-V 機能を拡張

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2008 年7 月24 日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、4200-SCS 型半導体特性評価システム用のソフ トウェアの最新バージョンKeithley Test Environment Interactive (KTEI) V7.1 をリ リースしました。

全文はこちらをクリックしてください（PDF形式)








最終変更日 2008-08-07