ケースレーがACS Basicエディションソフトウェアで サポートするDCソース-メジャー計測器を拡充

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ケースレーがACS Basicエディションソフトウェアで
サポートするDCソース-メジャー計測器を拡充

2009年8月27日― 先進電子計測器、システムの世界的なリーダであるKeithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI)は、広く使われているACS(Automated Characterization Suite) Basicエディションソフトウェアを機能アップし、ソース-メジャー (SMU) 計測器の多くを追加サポートしたと発表します。使用可能な計測器を拡張することで、特に、太陽電池セル、太陽光発電パネルや個別パワー半導体デバイスの試験にも対応できる電圧、電流範囲をACSで扱えるようになりました。ACS Basicエディションは高速のハードウェア制御、デバイスとの接続性そしてデータ管理を操作が容易なツールとしてまとめ上げ、部品の性能検証、デバッグおよび解析を容易化するものです。詳しくは、こちらにアクセス下さい：www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=ACSBasicEdition

ケースレーのACSファミリのひとつであるACS BasicエディションVersion 1.1の発売により、DC電圧および電流の範囲を大幅に拡張した試験機能がサポートされます。業界で最も広い選択肢を提供しているケースレーのSMU計測器のすべてと連動できます。選択されるSMUにより、ACS BasicエディションはSMUの各チャンネルで直流最大5Aまたは1100Vまでの印加測定を行えます。新たに拡張された印加測定の範囲は、特に、発展中の太陽光発電パネル/太陽電池セル(photovoltaic panels/solar cells )やパワーエレクトロニクスでの試験に寄与でき、研究開発、故障解析、検査アプリケーションなどに活用できます。新たなACS Basicエディションは、ひとつの試験に複数の異なるSMU測定器を混在させることもできるので、プログラムを作ることなく簡単に構成、試験生成、試験実行を行えます。

ケースレーは、パッケージ部品の特性測定を行うテクニシャンやエンジニアの生産性を最大化するためにACS Basicエディションを開発、デバイスの先行研究から開発、品質検証や故障解析など広い分野で使用することができます。あらかじめ構成された部品試験ルーチンのライブラリが完備しているので、スタートアップ時間を最小化し、プログラム開発の必要性を下げて部品試験プロセスを簡素化します。試験に不慣れなユーザでも半導体部品を瞬時に試験し、その特性を基準カーブと即座に比較できます。既存のアナログカーブトレーサ（curve tracer）のように使えるのに加えて、ACS Basicエディションはパッケージデバイスの一連のカーブを素早く描出するだけでなく、容易に結果を保存、比較し相関をみる柔軟性があります。

ACSパッケージのVersion 1.1は、各種の新しい機能と共に既存機能の強化もなされています：

• 拡張されたハードウェアオプション：ACSソフトウェアは、ケースレーのSMUファミリである、2600シリーズ/2600Ａシリーズ システムソースメータ( SourceMeter ）、2400シリーズソースメータ、4200-SCS型半導体特性評価システムそして237型 高電圧SMUのどれでも組み合わせてひとつの試験に供することができます。各種SMU測定器によりデバイスに固有な電流電圧範囲に最適化して試験することができます。
  新しいコミュニケーション設定ウィンドウにより、スイッチマトリックス、容量-電圧 (C-V) メータなどの外部GPIB測定器をACS Basicエディションシステムに組み込むことができます。既に所有している測定器を追加して効果的に使うことが簡単に行えます。
• 試験保存の機能強化：ACS Basicエディションにはデバイスや測定器によって試験を構造化するツールがあり、試験アルゴリズムの保存、呼び出しを容易に行えるので変更する場合や後で再実行するときに便利です。新しい “Saved Test Info”（保存試験情報）ダイアログボックスにより、測定器と、試験選択ウィンドウにある関連する試験とを選択できます。この特長によりユーザは試験を構造化できるので、重要なデータの収集や試験方法の変更を簡単に行えます。
• 試験選択ダイログを強化：このダイアログの強化で、新しいGENERICデバイスオプション、ユーザ定義のデバイスファンクションの改善、そしてソフトウェアのスタートアップ時にスキャンされるすべての測定器を含める新たな「測定器リストボックス」を提供します。
• データの可視化を簡単化：すべての個々のデバイス試験のデータタブに対する改善、すなわちユーザがプロットに含めたいと希望する全てのデータを一度に編入できるので、データの可視化が簡素化されます。
• スクリプトエディタの強化：スクリプトエディタが、多くの異なる試験モジュールタイプに対するスクリプトの開発と構造化をよりパワフルにしました。ユーザは、Pythonやテストスクリプトプロセッサ(TSP®)言語で記述されるカスタムの試験モジュール用GUIを作成するXRCed GUI開発ツールに直接アクセスできます。TSPスクリプトは2600シリーズ、2600Aシリーズ、3706型の測定器で利用できます。PythonスクリプトはGPIB経由でどんな測定器やユーザが制御したい汎用のハードウェアと通信するために使います。

ケースレーインスツルメンツ株式会社は半導体デバイス特性評価やパラメトリック試験のリーダであり、世界中のお客様に電流-電圧(I‑V)、容量-電圧(C-V)およびパルスI-Vの測定と解析の柔軟なソリューションを提供しています。製品はベンチトップ測定器からターンキーのシステムまでカバーし、材料解析、デバイス特性評価、ウェーハレベル信頼性そしてプロセス制御のモニタなど多岐にわたるアプリケーションに使われています。ケースレーは、半導体技術の分野の専門技術をもつサービスセンタやアプリケーションエンジニアのネットワークを通して世界の半導体顧客と緊密に連携しております。

価格と納期

ACS BasicエディションVersion 1.1
納期：即納
価格：759,000円から

詳細情報
ACS BasicエディションVersion 1.1の詳しい内容については、
www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=ACSBasicEdition
にアクセス下さい。もしくは弊社(下記)に直接ご用命下さい。