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今後の展示会

2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • USA
August 22-24, 2011
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ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
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MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • USA
Nov. 28-Dec. 2, 2011
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ケースレー、4200-SCS 型 半導体評価システムを刷新する 新しい内蔵型C-V モジュールと ソフトウェアを発売

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2007年10月24日 -先進電子計測器、システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.（NYSE：KEI）は、定評ある4200-SCS半導体特性評価システム用の C-V測定モジュール4200-CVU型を発売した。

全文はこちらをクリックしてください（PDF形式)








最終変更日 2007-10-31