現在の場所: ホーム » Keithley News Releases » ケースレー 生産アプリケーション用 ハイブリッド・テストシステム向けのPXI製品を販売開始

今後の展示会

2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • USA
August 22-24, 2011
ウェブサイトを見る

ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
ウェブサイトを見る

MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • USA
Nov. 28-Dec. 2, 2011
ウェブサイトを見る

 

ケースレー 生産アプリケーション用 ハイブリッド・テストシステム向けのPXI製品を販売開始

Document Actions
2006年11月21日 – 先進の電子計測器・システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.(NYSE:KEI)は、新たにPXI製品ラインの「KPXIシリーズ」を発表、本日より国内での販売を開始する。KPXIシリーズは、高速自動生産試験向けの、精密測定器を用いたハイブリッド試験システムの1構成要素として設計された。KPXIシリーズの高速データ収録機能やトリガ同期機能をケースレーの精密測定器と組み合わせることによって、より優れたハイブリッド・テストシステムを構築できる。

2006年11月21日

報道関係各位

ケースレーインスツルメンツ株式会社

マーケティング

            さとうかなえ

            佐藤香苗

info.jp@keithley.com

2006年11月21日 – 先進の電子計測器・システムの世界的リーダーであるKeithley Instruments Inc.(NYSE:KEI)は、新たにPXI製品ラインの「KPXIシリーズ」を発表、本日より国内での販売を開始する。KPXIシリーズは、高速自動生産試験向けの、精密測定器を用いたハイブリッド試験システムの1構成要素として設計された。KPXIシリーズの高速データ収録機能やトリガ同期機能をケースレーの精密測定器と組み合わせることによって、より優れたハイブリッド・テストシステムを構築できる。さらに分散プログラミングとコードの並列実行を可能にするアーキテクチャであるTSP™ (Test Script Processor)などのケースレーの革新技術を活用することで、比類ない確度とスループットを実現できる。ケースレーは、この製品の発表により、PXI、LXI、PCI、USB、GPIBを含めた精密測定および高速データ収録のトータルソリューション・サプライヤとして、お客様の多様な試験ニーズに応えていく。

新発売のケースレー「KPXIシリーズ」は、同時サンプリングデータ収録ボード、マルチファンクション・アナログI/Oボード、高速アナログ出力ボード、130 MS/秒デジタイザ・モジュール、デジタルI/Oモジュール、PXIシャーシ、組込PCコントローラ、MXIブリッジ (リモートPC制御用)、GPIBインタフェースで構成される。KPXIシリーズは、2600シリーズ・システムソースメータをはじめとするケースレーの精密測定器との最適なインテグレーションを考慮して設計されている。2600シリーズ・システムソースメータの、他社にはないTSP/TSP-Linkの特長(複数のチャンネルを制御するプログラムを測定器内のメモリに格納し、PCオペレーティングシステムや通信遅延の影響を受けずに試験シーケンスを高速に自動実行可能)もフルに活用できる。このように構成の柔軟性が高いので、自由自在にシステムを設計できる。また、各種測定器とKPXIシリーズを組み合せ、分散プログラミングと並列処理を使用することにより、最大のスループットと最高の精度が得られる。

ハイブリッド・テストシステムのニーズ
米国ケースレーインスツルメンツ社、マーケティング・ディレクターのMark Cejerは次のように述べている。「今日の生産試験に携わるエンジニアは、試験スル—プットの最大化、および製品投入サイクルの短縮というプレッシャーに常にさらされている。また、測定の種類の決定だけでなく、ベストなパフォーマンスとスピードを実現する測定器とコンピュータの組み合わせも選択しなければならず、これらは非常に複雑だ。業界の先端をいくケースレーの精密測定器とPXI/LXI/GPIBソリューションを最適に組み合わせることにより、用途にフィットするハイブリッド・テストシステムがほぼ1社から提供されることになる。」

最適なハイブリッド・テストシステムのためのKPXI
ケースレーのKPXIシリーズは、PXIスタンダード(PCI eXtensions for Instrumentation)に準拠し、業界標準のPCIインタフェースを採用している。ケースレーのKPXIシリーズには、LabView™、Microsoft .net、Visual Basic、Cの各プログラミング言語のサンプル・ソフトウェアおよびドライバが付属している。また、ポイント&クリックでC言語のテストコードを自動生成するソフトウェアTest Code Creatorが付属しており、プログラミングは不要である。

KPXIシリーズは、以下のモジュールで構成される。

  • 同時サンプリングDAQ (KPXI-SDAQ) –
    最大16ビット分解能での並列チャンネルデータ収集が可能な、同時サンプリング・アナログI/Oボード。アナログ出力、デジタルI/Oが可能。チャンネルとゲインキューは独立しており、一回のスキャンで異なるレンジでのチャンネル再利用が可能であるため、プログラミングは容易でスループットも改善。
  • マルチファンクションDAQ (KPXI-DAQ) –
    マルチファンクション・ボードは多重アナログ入力が可能。サンプリングレート最大3MS/秒、最大96チャンネルで高速アプリケーションに最適。アナログ出力、デジタルI/O、カウンタ/タイマを装備。これらのボードは、他製品に比べ50%以上高速、コストパフォーマンスに優れている。
  • 高速アナログ出力 (KPXI-AO) –
    最大1MS/秒でのアナログ出力を実現。PCI/USBと比較して、更新レートが1000倍高速。ハイブリッド試験システムに使われる測定器の性能に見合った波形品質での出力が可能。
  • デジタイザ・モジュール (KPXI-AI) –
    サンプリング速度最大130MS/秒、アナログ測定に同期するラッチデジタル入力装備。14ビット分解能。512MBのオンボードメモリが、他製品に比べ、より長い連続サンプリングを実現。
  • デジタルI/Oモジュール (KPXI-DIO) –
    一連のデジタルI/Oモジュールで、タイマ、リレー出力などのさまざまなデジタルI/Oの機能と特長を提供。すべてのボードが同じドライバを使用するので単純、ハイブリッド・テストシステム内の測定器との高速ハンドシェーキングにより、高速通信と試験時間の短縮を実現。
  • PXIシャーシ (KPXI-SYS) –
    3Uサイズのシャーシ。最大18スロットで、特に大規模システムを構築する際は、優れたコストパフォーマンスを実現。
  • コントローラ (KPXI-CON) –
    組込PCコントローラおよびリモートPC制御用MXIブリッジ。組込PCコントローラにはハードドライブ・バックアップ・ソフトウェア、WIN XP、KI-DAQドライバ、サンプル・テストコードがプリインストールされている。信頼性の高いハイブリッドシステムでの試験を可能に。
  • GPIBインタフェース (KPXI-488) –
    IEEE-488互換インタフェースで、容易にGPIB機器に接続可能。通信を気にせずに、高性能なハイブリッド・テストシステムを構築できる。

価格と納期:
PXIシャーシ  141,000円〜
組込コントローラ  396,000円〜
モジュール  46,000円〜

出荷開始:即日。

詳細:
ケースレーのKPXIシリーズ、およびハイブリッド・テストソリューションの詳細は、ケースレーインスツルメンツ株式会社にお問い合わせください。

お問い合わせ先

ケースレーインスツルメンツ株式会社

東京:

03—5733—7555 (電話

03—5733—7556 (FAX

105-0022 東京都港区海岸1-11-1 

ニューピア竹芝ノースタワー13

大阪:

06—6946—7790 (電話)

06—6946—7791 (FAX

540-6107 大阪市中央区城見2-1-61

ツイン21 MIDタワー7F

E-mail:

info.jp@keithley.com

Internet:

www.keithley.jp



ケースレーインスツルメンツについて
半世紀以上にわたり世界の計測をリードしてきたケースレーインスツルメンツは、工程管理、製造試験、開発設計、基礎研究での計測需要に応える電気測定ソリューションを DC から RF まで幅広く提供しています。ケースレーの先進のハードウェア、ソフトウェアは、全世界の技術者、研究者によって、最先端の材料研究、半導体デバイス、ウェーハ特性評価、電子部品やワイヤレスデバイスをはじめとする最終製品製造試験など、さまざまな局面で使用されています。ケースレーは、強みである測定技術とアプリケーションノウハウを併せ持つことにより、世界中のお客様の製品やプロセスの改善、市場投入時間を図るための支援を行っています。

本プレスリリースに記載されている製品名、会社名は、
各所有会社の商標です。

# # #








最終変更日 2006-12-01