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特殊測定器およびシステム
特殊用途の測定器・システムを幅広く提供 しています。レーザダイオードモジュールのペルチエ素子からホール効果測定、車載用エアバッグ試験などまで幅広いアプリケーション向けに、レーザダイオード試験ソリューション、各種ソースメータ、温度コントローラ、精密電源やエレクトロメータを提供しています。オプトデバイスの特性評価、DUT温度の厳格な制御、抵抗率測定、導通またはハイポットリーク抵抗の試験などが必要でしたら、この箇所で情報を取得ください。
2520型レーザーダイオードパルス試験システム、リモートテストヘッド付き
  • オプトエレクトロニクスデバイスの総合的な特性評価を実行
  • パルスおよび連続LIV試験
  • 最適化された直接的な光パワー測定
  • 能動的に冷却される部品の温度制御
  • 500nsという短いパルスで熱的効果を最小化
2510型 TECソースメータ
  • 被試験デバイスの厳格な温度制御
  • 能動的に冷却される部品の温度を±0.005℃以内に制御
  • ペルチェ抵抗測定でTECデバイスを保護
  • 閉ループ温度制御オプション
  • 50Wの出力でより高速な試験速度をサポート
6220型DC精密電流源
  • 10^8側のオーム 超の抵抗を試験
  • リーク電流とライン容量を実質的に排除
  • 手動または自動スイッチング
2790型ソースメータスイッチシステム @90V
  • マルチチャンネル測定システム
  • 高電圧低電流印加をプログラム可能
  • モジュール式アーキテクチャ
  • 100 µΩ~120 MΩの2線式および4線式抵抗を測定
  • 導通とHIPOTリーク抵抗を試験
 
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