日本語資料（一部製品）
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アプリケーションノート
| 世界の半導体、光通信用コンポーネント、通信機器、電子部品メーカーがケースレーの高度なソリューションに信頼を寄せています。ケースレーでは、製造検査、プロセスモニタ、研究開発に使用するPCボードおよびソフトウェアを提供しております。 | ||
| 現在弊社にて用意しております日本語資料です。その他の資料についても、随時アップデートしていきます。 |
製品カタログ
- 428型超高速電流－電圧変換アンプ
- 2000型デジタルマルチメータ
- 2002型高性能8.5桁デジタルマルチメータ
- 2100型6½桁USBデジタルマルチメータ
- 2182A型ナノボルトメータ
- 2400シリーズソースメータ
- 2401型 低電圧ソースメータ
- 2440型5Aソースメータ
- 2500型デュアルフォトダイオードメータ
- 2510型TECソースメータ
- 2520型レーザダイオードパルス試験システム
- 2600Aシリーズ システムソースメータ
- 2651A型 ハイパワー システムソースメータ
- 2700型多チャンネルDMM
- 2701型イーサネット対応マルチメータ/データ収録システム
- 2750型マルチメータ/スイッチングシステム
- 3390型50MHｚ任意波形/ファンクションジェネレータ
- 3400シリーズパルス/パターンジェネレータ
- 3700シリーズシステムスイッチ/マルチメータ
プラグインカード - 4200－SCS型半導体特性評価システム
- 4225-PMU型 超速I-Vモジュール（4200-SCS型用）
- 6220型精密DC電流源
- 6221型AC/DC電流源
- 6430型サブフェムトアンペア·リモートソースメータ
- 6485/6487型ピコアンメータ
- 6514型エレクトロメータ
- 6517B エレクトロメータ/絶縁抵抗計
- ACS Basicエディション
- ACSブローシャ
- S530 パラメトリック試験システム
オンライン製品ツアー/デモ
ビデオ
オンラインセミナ （アーカイブ）
- ハイパワー高輝度LEDの電気測定 ( IEブラウザを使用ください )
- 新材料のローパワーでの正しい特性測定 ( IEブラウザを使用ください )
- 抵抗率測定の基礎と勘どころ ( IEブラウザを使用ください )
- 高輝度ＬＥＤの電気測定入門
- 簡単、高速、シンプルなベンチトップDC設計検証ツール
- 正確なナノテク電子計測技法
- 半導体デバイスの信頼性試験を理解する
- 温度測定
- 4200半導体パラメータアナライザ：「超速I-V試験」の基礎
- 半導体C-V測定の基礎
- 微少電流測定入門 (低電流測定器を最大限に活用するために)
- 太陽光発電測定：最新の太陽電池セルの電気特性の試験
- ホール効果測定の基礎
- “スマート”TDDBによるHigh-kゲートスタック自動モニター
Ｅブック
- ナノテク電気測定の精度を上げる
- 精密DC I-V、ACインピーダンス、そして超速/トランジェントI-V測定
- 超速I-Vアプリケーション(4225-PMU)
- 最新の材料・デバイスの新しい試験手法
- 研究開発向けの新しい試験手法
- 材料科学やデバイス開発の限界への挑戦（高確度電気測定)
- 精密な印加測定を経済価格で構成しませんか？
- スイッチングシステム設計における課題をさぐる
マニュアル
- 2000型デジタルマルチメータクイックリファレンスガイド(日本語、Rev.B)
- 2000型デジタルマルチメータ簡易操作説明書(日本語、Rev.A)
- 2000型デジタルマルチメータTestPointデモプログラム説明書(日本語、Rev.A)
- 2001型デジタルマルチメータ取扱説明書（日本語、Rev.A）
- 2182型ナノボルトメータ クイックリファレンスガイド（日本語、Rev.A）
- 2400型ソースメータシリーズ取扱説明書（日本語、Rev.A）
- 2600シリーズリファレンスマニュアル（日本語、Rev.A)
- 27xx型インテグラシリーズ クイックリファレンスガイド（日本語、Rev.A）
- 2700型マルチメータ/スイッチシステム取扱説明書（日本語、Rev.A）
- 4200-SCS型半導体特性評価システム 基本操作説明書（日本語、Rev.A)
- 6430型サブフェムトアンペア·リモートソースメータ基本操作説明書（日本語、Rev.A）
- 6485/6487型ピコアンメータ取扱説明書（日本語、Rev.A）
- 6514型エレクトロメータ基本操作説明書
- 6517A型エレクトロメータ基本操作説明書
- 7001型スイッチングメインフレーム取扱説明書(日本語、Rev.A)
アプリケーションノート
- 高輝度 LED のパルス幅変調試験：2651A 型の応用
- 4200-SCS 型半導体パラメーターアナライザを用いたカーボン・ナノチューブ・トランジスタの電気特性評価
- 最新のハイパワーデバイスの高速パルス測定を実現する
- ケースレー2651A 型ハイパワーソースメータ® を 組み合わせ、100A までを試験する
- ダイオード試験( ＃801 )
- 抵抗ネットワーク試験（＃802）
- アクティブ回路保護デバイス生産試験（＃803）
- 個別抵抗試験（＃805）
- サーミスタ試験（＃806）
- バッテリ充放電試験（＃807)
- 太陽電池試験（＃808）
- I-V 計測器を用いた高電流測定手法 (#3047)
- DC-DC コンバータの特性を微小電流領域まで正確に評価できるシンプルな測定ソリューション
- 多様な測定タイプに対応した ケーブルシステム
- モデル4200-SCS半導体評価 システムを使ったチャージポンピング測定
- 4200半導体パラメータアナライザを用いた 光起電材料や太陽電池の電気的特性評価 (#3026)
- 4200型半導体パラメータアナライザでのランプレート法を用いた準静的CV測定（＃2973）
- 4200CVU容量-電圧測定ユニットを用いたインダクタンス測定 (#2922)
- 信頼のおける高確度抵抗測定を低パワー/低電圧アプリケーションで実現する
最終変更日 2012-04-25
