微少電流測定入門 (低電流測定器を最大限に活用するために)

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概要

100ナノアンペア以下の微少電流を正確に測定するには、幾つかの基本的な事柄に注意して実施する必要があります。本セミナではそれらのノウハウの基礎をお伝えします。
内　容：
・低電流測定システムのモデル
・理論上の電流ノイズによる制限の定義
・低電流測定に対する誤差要因のコントロール
・ソースメジャーユニット(SMU)による低電流測定　

関連製品


2636A型 1fA システムソースメータ	6487/6485型 10fA ピコアンメータ


6514/6517B型 100aA エレクトロメータ	6430型 10aA リモートソースメータ	4200-SCS型 100aA 半導体特性評価システム

期待する参加者

測定対象物(DUT)が、

半導体材料・デバイス
ナノテク材料・デバイス
高抵抗の材料・部品
絶縁材料
その他、微少電流測定が必要なもの

微少電流測定に関して、

現在、課題を抱えている方
これから行おうとしている方
もう一度振り返ってみたい方
一般的な知識を得たい方

担当エンジニア

Jonathan L. Tucker（セミナ開発者）
シニアマーケター、科学研究計測担当

ジョン・タッカーは、ケースレーインスツルメンツ米国本社（オハイオ州クリーブランド市）の科学研究計測および研究・教育ビジネス担当のシニアマーケターです。1987年に入社し、テストエンジニア、アプリケーションエンジニア、アプリケーションマネージャ、製品マーケターなどの職務にあたってきました。現在は主に、ナノテクノロジのアプリケーションにおける電気特性測定・評価分野に対するビジネス戦略と製品開発に携わっております。

最終変更日 2011-01-05

セクション

微少電流測定入門 (低電流測定器を最大限に活用するために)

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