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ACS BasicエディションACS統合システム-半導体/電子部品の特性評価

パーツ番号: ACSBasicEdition

ケースレーの高精度測定ソリューションで太陽電池セル試験を簡素化

製品カタログ

ACS Basicエディション



主な特徴と利点:
  • 半導体/電子部品の検証、解析、試験に最適
  • コーディング不要―ACSの直感GUIでI-V試験、解析を簡素化、結果を素早く入手
  • ハードウェアの柔軟性―個々の試験ニーズに応じて測定器を簡単に増減可能
  • アプリケーションライブラリ―アクセスしやすい豊富な試験ライブラリを用意
  • 最初の測定をすぐに―単純なインストール、直観的な試験選択ウィザード、内蔵ライブラリ
  • モジュールソフトウェア構造なので、新規の試験ニーズにもシステム拡張によって容易に対応可能
  • 無償のオンラインソフトウェアライセンスにより、他のPC上で新たな試験シーケンスを簡単に作成可能―場所を問わないコーディングが可能

ACS Basicエディションは、パッケージ部品の初期のデバイス研究から開発、品質検証や故障解析で要求される特性測定の生産性を最大限に高めます。ケースレーの実績ある広範なソースメータ® シリーズと、使いやすいACS Basicエディションソフトウェアを組み合わせることにより、半導体/電子部品の高精度で経済的な試験ソリューションが構築されます。一連のパラメータの特性評価を総合的に提供するので、半導体/電子部品の仕様に対する性能、完璧な受け入れ検査や品質保証の試験、あるいは新規デバイス、材料の電気特性の解明などを素早く容易に行うことができます。


代表的なアプリケーション:
  • 既存のプロセスによる半導体製品開発
  • 受け入れ検査と品質保証
  • 新規デバイスの研究調査