半導体特性評価ソフトウェア
ケースレーのACS（Automated Characterization Suite)ソフトウェアは、デバイス、ウェーハおよびカセットレベルでの半導体特性評価を自動化する強力なソリューションです。ACS統合試験システムは研究開発での対話形式での測定ツールと高速の製造用高速試験ツールの中間に位置する製品です。ACS-Basicエディションは電子部品や個別半導体（パッケージ）デバイスのベンチトップでのパラメトリック試験に最適化されたもので、R&Dのエンジニアの生産性を大きく改善できます。ACS-WLR(Wafer Level Reliability)統合試験システムは、寿命予測を従来のWLR試験ソリューションに比べて２～５倍の能率で行えるので、技術開発、プロセスインテグレーションおよびプロセスモニタを効率化して市場投入を加速します。
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