ACS Basicエディションは、主にマニュアル・プローバまたはテスト・フィクスチャで半導体コンポーネントをテストする場合に使用します。デバイスの初期特性をすばやく、トレース・モードによる対話形式で評価します。また、GUIベースのセットアップ画面と豊富な測定ライブラリにより、詳細なパラメータ抽出テストを生成します。ACS Basicは迅速なリアルタイムによるテスト結果が得られ、データをエクスポートすることでオフラインの解析ツールが使用できます。詳細情報。

2600BシリーズSMUは2チャンネル・ユニットであり、MOSFETやBJTなどの複数の端子を持った半導体のテストに適しています。ケースレーのTSP-Link™機能により、SMU間で連携のとれた正確なタイミング測定が行えます。豊富な製品ラインアップから、アプリケーションに合った電圧、電流仕様の一台をお選びいただけます。詳細情報。

2650Aシリーズ・ハイパワー・ソースメータ（SMU)は、さまざまなテスト条件で使用できます。3kVまたは50Aのパルス、最大2000Wのパルスまたは200W DCの供給、測定が行えます。業界トップクラスの低電流性能により、優れたリーク電流測定も行えます。ケースレーのTSP-Link™機能により、ローパワーの2600BシリーズSMUと統合したシステム構成も可能になります。詳細情報。

ケースレーのパラメトリック・カーブトレーサは、高性能機器、ケーブル、テスト・フィクスチャ、ソフトウェアなどと組み合わせることにより、ハイパワー・デバイスの優れた特性評価ソリューションになります。7種類の構成があり、どの組み合せでもリアルタイム・トレース・モードによるブレークダウン電圧などの基本デバイス・パラメータのチェック、正確なデバイス・パラメータ抽出のためのフル・パラメトリック・モードが可能です。詳細情報。

4200-SCS型半導体特性評価システムの200V/1A SMU、400V C-V機能は、半導体コンポーネントの特性評価に最適です。2650Aシリーズ・ハイパワーSMUと組み合わせることで、3kVまたは50Aまでのテストが行えます。ACS Basicエディション・ソフトウェアと組み合わせることにより、さまざまな機能でのテストの生成、実行が行えます。詳細情報。

S500型統合試験システムは、フル・ターンキー・ソリューションです。さまざまに構成可能なシステムであり、技術開発テスト・ソリューションのための豊富な測定機能を装備することができます。ACSと組み合わせることにより、オート・ウェーハ・プローブによるスループットの高い多点デバイス・テストが可能になります。詳細情報。

ACS Basicエディション・ソフトウェアと2チャンネルの2600BシリーズSMUを使用することで、シンプルなI-Vパラメータ・アナライザになります。マニュアルのプローバまたはテスト・フィクスチャを使用し、半導体デバイスごとの測定または測定シーケンスを生成し、実行します。測定結果は、グラフまたは表形式でただちに表示されます。詳細情報。

ACS Basicエディション・ソフトウェアと2チャンネルの2600BシリーズSMUを使用することで、シンプルなI-Vパラメータ・アナライザになります。複数台の2600BシリーズとACSを組み合わせることにより、自動ウェーハレベル・テストが実行できます。ケースレーのTSP-Link™機能により、ケースレーの半導体スイッチングの有無にかかわらず、SMU間で連携のとれた正確なタイミング測定が行えます。

4200-SCS型半導体特性評価システムは、IC関連のデバイス、材料、プロセスの特性評価に必要なI-V、C-V、パルス、超速I-V測定など、すべての測定が実行できる統合ソリューションです。ACSの追加、必要に応じてケースレーの半導体スイッチングを追加することにより、ウェーハ・レベルまたはカセット・レベルでの自動テストが実行できますSemiconductor Switching. Click 詳細情報。

対話形式の自動ICデバイス特性評価が可能なS500型統合試験システムは、2600シリーズSMUを装備することで正確な高速I-V測定が、4200-SCS型半導体特性評価システムを装備することでC-V、パルス、超速I-V測定などが可能になります。スイッチング、ケーブリング、プローブ・カード・インタフェース、ACSソフトウェアを統合したS500型は、実験室における理想的なターンキー・ソリューションです。詳細情報。

ACS-2600-RTMはACSのオプションであり、2600BシリーズSMUのスピードとスケーラビリティを拡張します。多チャンネル・システムで、個々に、あるいは並列にデバイスをテストすることができます。詳細情報。

最先端のCMOS開発では、非常に高速な測定と最小の緩和時間が求められるNBTIテストの問題があります。4200シリーズの超速BTIオプションは、サブ・マイクロ秒の測定時間と、最先端の半導体研究者で使用されている数多くの測定手法を装備しています。詳細情報。

2チャンネルの2600シリーズSMUで個々のデバイスのWLRテストを実行します。TSP（Test Script Processor）技術により多チャンネル・システムの同期が可能であり、数多くのデバイスを同時にテストすることができます。詳細情報。

S500型統合試験システムは、パラレル・デバイスのWLRテストにおいて、最大44のソース測定チャンネルを構築できます。2600シリーズSMUをベースに構築するS500型は、すべてのデバイスにおける高速の同期測定を行うフル・ターキー・システムです。詳細情報。

2600シリーズSMUは、ケースレーのオンウェーハ・ダイ・ソート・システムの中心的存在です。ケースレーのTSP（Test Script Processor）技術を使用した、同期のとれた複数のSMUチャンネルにより、複数のデバイスの高速同時テストが可能になります。1fAから100A、100nVから3kVまで、さまざまな電流、電圧レンジに対応した機種が用意されています。詳細情報。

S500型統合試験システムは、パラレル・デバイス・オンウェーハ・ダイ・ソート試験において、最大44のソース測定チャンネルを構築できます。2600シリーズSMUをベースに構築するS500型は、すべてのデバイスにおける高速の同期測定を行うフル・ターキー・システムです。詳細情報。

S500型統合試験システムは、ケースレーのS530型パラメトリック試験システムの持つ、標準構成外のパラメトリック測定要件に対応したカスタム構成が可能です。豊富な測定機能を持った計測器、スイッチングの有無などのシステム構成が選べます。詳細情報。

迅速、正確な測定のため、S530型パラメトリック試験システムはシステムレベルの仕様、診断機能、SEMI仕様の適合性を含んでいます。KTEはS530型標準のソフトウェアですが、ACSソフトウェアを使用することで、実験室またはオフライン環境において対話形式で使用できます。詳細情報。