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半導体特性評価ソフトウェア
ケースレーのACS(Automated Characterization Suite)ソフトウェアは、デバイス、ウェーハおよびカセットレベルでの半導体特性評価を自動化する強力なソリューションです。ACS統合試験システムは研究開発での対話形式での測定ツールと高速の製造用高速試験ツールの中間に位置する製品です。ACS-Basicエディションは電子部品や個別半導体(パッケージ)デバイスのベンチトップでのパラメトリック試験に最適化されたもので、R&Dのエンジニアの生産性を大きく改善できます。ACS-WLR(Wafer Level Reliability)統合試験システムは、寿命予測を従来のWLR試験ソリューションに比べて2~5倍の能率で行えるので、技術開発、プロセスインテグレーションおよびプロセスモニタを効率化して市場投入を加速します。
ACS自動特性評価スイート統合テストシステム
  • 一体型ソリューション:テストセットアップから結果解析まで
  • 一般的な全自動プローバとの互換性
  • 直感的なGUI
  • 複数の試験による特性評価でさえコーディングが不要
  • 特殊試験を開発するためのスクリプトエディタ
  • 使いやすいアプリケーションライブラリ
  • ベンチトップおよび自動ラックベースのシステム用
ACS BasicエディションACS統合システム-半導体/電子部品の特性評価
  • 半導体部品の特性評価
  • 故障解析
  • 新技術のアプリケーションに簡単に適応
  • 数百の標準デバイス試験を収録したライブラリ
  • あらゆるケースレーソースメータ測定器プラスアルファをサポート
ACS自動特性評価スイート統合テストシステム
  • パラレルSMUパーピン試験用に最適化された対話型インタフェース
  • JEDEC規格の大部分の試験法に適合
  • 強力で柔軟なストレス/測定シーケンス機能
  • パラメータ解析およびライン適合用フォーミュレータ
  • 試験結果をリアルタイム監視
 
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