半導体ソースメジャユニット(SMU)
半導体の試験アプリケーション向けに2つのソースメータのファミリを提供しています。2600Aシリーズ システムソースメータファミリのTSP（Test Script Processor)アーキテクチャ、高速パルスモード測定、並列試験の実行および精密タイミングの機能は、業界で最も高いスループットを提供し試験コストを削減できます。2410型高電圧ソースメータは抵抗と電圧係数の試験、バリスタ、スイッチング、ツェナー、RFダイオードさらに高電圧ダイオードやアンプの試験に最適です。他方、2430型1kWパルスソースメータは、多層バリスタ(MLV)や半導体部品を含めた各種のパワーデバイスのブレークダウン電圧測定に最適です。
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